ISSN 2307-4469 · EISSN 2949-5636
Языки: ru · en

Статья: Исследование времени жизни неосновных носителей заряда в структурах на основе InGaAs (2019)

Читать онлайн

Тройные и четверные растворы материалов группы А3В5 арсенидов InGaAs и фосфидов InGaAsР используются в современных приборах коротковолнового ИК-диапазона спектра различного назначения. Проведены оценки и моделирование времени жизни в структурах А3В5 в соответствии с тремя основополагающими механизмами генерации-рекомбинации: излучательным, Оже и Шокли-Рида-Холла. По про-веденным оценкам время жизни в материале In0,53Ga0,47As n-типа проводимости в диапазоне концентраций 1013–1017 см-3 составляет от 10-5 до 4,510-4 с, что позволяет достигать высоких фотоэлектрических параметров.

The family of ternary InxGa1-xAs and quaternary GaxIn1-xPyAs1-y compounds are of considerable interest for photodetection in NIR and SWIR regions. The recombination minority carrier lifetimes modeling in wide structure compositions and temperatures have been carried out for three important mechanisms of generation-recombination: radiative, Auger and Shock-ley-Reed-Hall. According to estimates, the lifetime in n-In0.53Ga0.47As for the concentration range of 1013–1017 cm-3 changes from 4.510-4 to 10-5 sec and allows to achieve high perfor-mance.

Ключевые фразы: коротковолновый инфракрасный диапазон, SWIR, ИК, InGaAs, InGaAsР, время жизни, infrared, ir, lifetime
Автор (ы): Яковлева Наталья
Соавтор (ы): Никонов Антон Викторович
Журнал: Успехи прикладной физики

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383.4. Фотоэлементы с внутренним фотоэффектом. Фоторезисторы
621.383.5. Фотоприемники с запирающим слоем
eLIBRARY ID
37305301
Для цитирования:
ЯКОВЛЕВА Н., НИКОНОВ А. В. ИССЛЕДОВАНИЕ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ INGAAS // УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ. 2019. ТОМ 7 № 2
Текстовый фрагмент статьи