Книга: Структурная электронография
Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие дифракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтронографическое) изучение которых затруднительно или вообще невозможно.
В последнее время в Советском Союзе, а также за рубежом проведено много электронографических исследований атомной структуры кристаллов, обогативших некоторые области кристаллографии, кристаллохимии, минералогии, металловедения и других дисциплин. Все большее значение приобретает электронографический метод в изучении атомной структуры самых разнообразных используемых в технике материалов, в установлении закономерностей происходящих в них процессов, в объяснении их физических свойств.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 342 страницы
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
- Просмотров
- 16
Предпросмотр документа
Информация о книге
- Издательство
- Изд-во АН СССР
- Год публикации
- 1956
- Каталог SCI
- Физика
- ББК
- 22.3. Физика
- УДК
- 53. Физика