Книга: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. В 2-х книгах. Книга 2

Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д.

Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.

Информация о документе

Формат документа
PDF, DJVU
Кол-во страниц
349 страниц
Загрузил(а)
Олейникова Елена
Лицензия
Доступ
Всем

Предпросмотр документа

Информация о книге

Издательство
Издательство Мир
Год публикации
1984
Автор(ы)
Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э.
Библиографическая запись

Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э.

Р24 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х книгах. Книга 2. Пер. с англ./Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и ДР- — М.: Мир, 1984. — 348 с, ил.

Ключевые фразы
электротехника, электроника, растровая электронная микроскопия, рентгеновский микроанализ
Каталог SCI
Электроника