Книга: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. В 2-х книгах. Книга 1.
В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 305 страниц
- Загрузил(а)
- Олейникова Елена
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
- Просмотров
- 1
Предпросмотр документа
Информация о книге
- Издательство
- Издательство Мир
- Год публикации
- 1984
- Библиографическая запись
-
Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э.
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х книгах. Книга 1. Пер. с англ. — М.:
Мир, 1984.— 303 с, ил. - Каталог SCI
- Электроника