Статья: Неоднородность темновых токов инфракрасных фотодиодов на основе Cd0,22Hg0,78Te (2019)

Читать онлайн

Проведен анализ гистограммы темновых токов матриц длинноволновых фотодиодов, изготовленных из гетероэпитаксикальных структур (ГС) Cd0,22Hg0,78Te/CdTe/ZnTe/ GaAs(301). Максимум гистограммы соответствует диффузионным токам для номинальных фотоэлектрических параметров CdHgTe. Имеются единичные фотодиоды с темновыми токами, на порядки превышающими диффузионный ток. Вероятность их появления связывается с V-дефектами структуры ГС, плотность которых составляет величину порядка 103 см-2 и которые представляют собой области нарушеннной структуры CdHgTe с избытком теллура. Имеется достаточно большое количество диодов (десятки процентов) с повышенными темновыми токами. Исследование C-Vхарактеристик МДП на ГС показывает наличие положительного заряда, неоднородно распределенного по поверхности и достаточного для инверсии типа проводимости в отдельных областях. Образование шунтирующего слоя n-типа на поверхности должно приводить к увеличению темновых токов фотодиодов, попадающих в такие области.

Histogram of dark currents of long-wave photodiodes matrices made of heteroepitaxial structures Cd0.22Hg0.78Te/CdTe/ZnTe/GaAs(301) was analyzed. The maximum of the histogram corresponds to diffusion currents for the nominal photoelectric parameters of CdHgTe. There are single photodiodes with dark currents which are orders of magnitude higher than the diffusion current. The probability of their appearance is associated with V-defects of the HS structure, whose density is of the order of magnitude and which are regions of a damaged CdHgTe structure with an excess of tellurium. There is a fairly large number of diodes (tens of percent) with slightly increased dark currents. Investigation of the C-V characteristics of the MIS on the HS shows the presence of a non-uniformly distributed positive charge which is sufficient for inversion of the conductivity type in certain areas. The formation of n-type shunt layer on the surface should lead to an increase in the dark currents of the photodiodes located in such areas.

Ключевые фразы: КРТ, CdHgTe, al2o3, фотодиоды, темновой ток, структурные дефекты, МДП-структура
Автор (ы): Сидоров Георгий Юрьевич, Горшков Дмитрий Витальевич, Сабинина Ирина Викторовна, Сидоров Юрий Георгиевич, Варавин Василий Семенович, Предеин Александр Владиленович, Якушев Максим Витальевич, Икусов Данил Геннадьевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
eLIBRARY ID
38570411
Для цитирования:
СИДОРОВ Г. Ю., ГОРШКОВ Д. В., САБИНИНА И. В., СИДОРОВ Ю. Г., ВАРАВИН В. С., ПРЕДЕИН А. В., ЯКУШЕВ М. В., ИКУСОВ Д. Г. НЕОДНОРОДНОСТЬ ТЕМНОВЫХ ТОКОВ ИНФРАКРАСНЫХ ФОТОДИОДОВ НА ОСНОВЕ CD0,22HG0,78TE // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2019. №3
Текстовый фрагмент статьи