ISSN 1996-0948 · EISSN 2949-561X
Языки: ru · en

Статья: Применение цифровой ширографии для обнаружения дефектов в материалах (2023)

Читать онлайн

Одним из быстро развивающихся оптических методов является цифровой вариант сдвиговой корреляционной спекл-интерферометрии (ширография). Основными преимуществами метода являются бесконтактный метод получения данных, малая зависимость от формы и поверхности исследуемого материала, определение градиентов перемещений точек поверхности, которые проявляются в виде аномалий в рисунке интерференционных полос, связанных с участками деформации.
Предложена и реализована схема компактного спекл-интерферометра для цифровой ширографии на основе интерферометра Майкельсона. Продемонстрирована возможность выявления трещины в сварном шве на металлических (алюминиевых и стальных) пластинках.

One of the rapidly developing optical methods is the method of correlation speckle interferome-try or the so-called shear speckle interferometry (shearography). The main advantages of the method are higher accuracy of strain estimation, non-contact method of data acquisition, low dependence on the shape and surface of the material under study, as well as ease of setup and operation. This provides direct measurements of strain gradients in real time.
A scheme of a compact speckle interferometer for digital shearography based on the Michelson interferometer is proposed and implemented. The possibility of detecting a crack in a welded joint of metal (aluminum and steel) plates is demonstrated.

Ключевые фразы: сварной шов, дефент, ширография, спекл-интерферометрия, поверхностная деформация, НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ, цифровая голографическая интерферометрия, shearography, speckle interferometry, surface deformation, non-destructive testing, digital holographic interferometry
Автор (ы): Утамурадова Шарифа Бекмурадовна
Соавтор (ы): Азаматов Закиржан Тахирович, Гапонов Владимир Егорович, Жеенбеков Акылбек Аматович, Базарбаев Нурлан Ниятуллаевич, Бахрамов Аброр Бурибой угли
Журнал: Прикладная физика

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
535. Оптика
681.327. <Вспомогательное цифровое оборудование (устройства) ЦВМ. Запоминающие устройства (ЗУ). Устройства ввода и вывода> Исключено E&C 18 [1996]
Префикс DOI
10.51368/1996-0948-2023-4-115-120
eLIBRARY ID
54370013
Для цитирования:
УТАМУРАДОВА Ш. Б., АЗАМАТОВ З. Т., ГАПОНОВ В. Е., ЖЕЕНБЕКОВ А. А., БАЗАРБАЕВ Н. Н., БАХРАМОВ А. Б. ПРИМЕНЕНИЕ ЦИФРОВОЙ ШИРОГРАФИИ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В МАТЕРИАЛАХ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2023. № 4
Текстовый фрагмент статьи