Вход

Алеев Рафиль Мухтарович

Автор

Город

Набережные Челны

Место работы

Учёная степень

Доктор наук

Академия

Российская академия наук (РАН)

SciID

0000018616

SPIN-код

1538-1195

РИНЦ Author ID

797681

ОНП

semiconductor wafer, surface roughness, method for monitoring contamination, полупроводниковая пластина, шероховатость поверхности, метод контроля загрязнения

Заходил

показать

Место работы

ОНП

semiconductor wafer, surface roughness, method for monitoring contamination, полупроводниковая пластина, шероховатость поверхности, метод контроля загрязнения

0

препринтов

0

диссертаций

0

книг

0

заметок

0

патентов

Постов пока нет

Скоро владелец страницы опубликует здесь свои посты.