В работе решается прикладная задача расчета профилей полей вторичного излучения, возбуждаемого в элементах конструкции линейного многоканального детектора, протяженного вдоль линии распространения первичного излучения. Приведен анализ влияния вторичного излучения на форму экспериментально регистрируемых абсорбционных кривых. Сделана постановка задачи и предложена методика моделирования, учитывающая взаимодействие со связанными электронами атомов. Выполнен численный расчет и выявлены закономерности формирования профилей полей вторичного излучения, обусловленные условиями возбуждения первичного излучения, физическими свойствами рассеивающей среды и размерами области облучения. Экспериментально показано, что в плоскости регистрации, непосредствен-но примыкающей к рассеивающему фантому, поля вторичного излучения имеют градиентную структуру.
The applied problem of calculating the profiles of the fields of secondary radiation excited in the structural elements of a linear multi-channel detector, extended along the propagation line of primary radiation, is solved. An analysis is made of the effect of secondary radiation on the shape of experimentally recorded absorption curves. The problem statement is made and a modeling technique is proposed that takes into account the interaction with the bound electrons of atoms. A numerical calculation is performed and the principles of the formation of secondary radiation field profiles are determined depending on the conditions of primary radiation excitation, the physical properties of the scattering phantom, and the size of the ir-radiation region. It has been shown experimentally that in the registration plane directly ad-jacent to the scattering phantom, the secondary radiation fields have a gradient structure.
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 43799640
