Установлено, что сверхслабое свечение, наблюдающееся в режиме нано- и микротоков в синих GaN-светодиодах с множественными квантовыми ямами, обусловлено туннельно-рекомбинационными процессами с участием дефектных состояний и локальных потенциальных ям различной глубины, возникающих вследствие планарных флуктуаций индия в слоях InGaN активной области. Получены цифровые фотографии и проанализированы картины сверхслабого свечения поверхности кристаллов светодиодов. Показано, что картины свечения наряду с вольтамперной характеристикой демонстрируют значительные изменения после испытаний еще на начальных этапах деградации, что указывает на высокую чувствительность этих параметров к деградационным процессам и на возможность их использования в методах диагностики и неразрушающего контроля.
It is found that the ultra-weak luminescence observed in microcurrents mode in blue GaN LEDs with multiple quantum wells is due to tunnel-recombination processes with the participation of defect states and local potential wells of various depths, which arise as a result of planar fluctuations of indium in the InGaN layers of the active region. Digital photographs were obtained and patterns of ultra-weak luminescence of the surface of LED crystals were analyzed. It is shown that the patterns of luminescence, along with the current-voltage characteristic, demonstrate significant changes after testing even at the initial stages of degradation, which indicates a high sensitivity of these parameters to degradation processes and the possibility of their use in diagnostic and non-destructive testing methods.
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- Префикс DOI
- 10.51368/1996-0948-2021-6-74-82
- eLIBRARY ID
- 47365526
Таким образом, было показано, что в светодиодах с гетероструктуров InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами при напряжениях менее 2,3 В наблюдается сверх-слабое свечение, которое имеет сплошную и точечную составляющие. Цвет сплошной составляющей соответствует энергии кванта света hν eU при изменении напряжения, что объясняется туннелированием носителей сквозь барьер с последующей излучательной рекомбинацией. Цвет точечных составляющих обусловлен туннельно-рекомбинационными процессами с участием локальных потенциальных ям различной глубины, обусловленных планарными флуктуациями индия в слоях InGaN активной области.
Была отмечена зависимость картин сверхслабого свечения от степени деградации структуры и распределения дефектов по по-верхности кристалла.
Исследование вольтамперных характеристик в диапазоне нано- и микротоков, когда и наблюдается данное сверхслабое свечение, свидетельствуют о том, что в процессе испытаний под действием прямого тока большой плотности в СИД происходит генерация дополнительных дефектов и формируются дефектные состояния в запрещенной зоне слоев активной области [2]. Вероятность туннелирования носителей с участием локализованных состояний дефектов (прыжковая проводимость [17]) становится выше, что приводит к увеличению прозрачности барьера и наблюдаемым изменениям ВАХ на начальном участке (рис. 5, 6).
Такие процессы происходят локально [1], особенно в местах формирования шнуров повышенной электропроводности [19, 20].
Разработанный программно-аппаратный комплекс позволяет проводить прецизионные измерения ВАХ и изучать картины распределения интенсивности и цветовые оттенки слабого свечения при напряжениях менее 2,3 В по поверхности светоизлучающего диода на основе гетероструктуры AlGaN/InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами, что дает возможность анализировать локальные изменения его спектральных характеристик, обусловленных дефектообразованием в процессе испытаний, с помощью пиксельного анализа цифровых фотографий.
Таким образом, наблюдение за изменениями туннельно-рекомбинационным свечения наряду с контролем изменений туннельных микро- и нанотоков может предоставить важную информацию о начальном состоянии гетероструктуры СИД и кинетики накопления дефектов. В связи с этим данный метод наряду с предложенными в [21], можно применять для входного контроля кристаллов СИД и ранней диагностики будущих катастрофических изменений, которые приведут к существенной потере яркости и выходу СИД из строя.
Список литературы
- Бочкарева Н. И., Ефремов А. А., Ребане Ю. Т., Горбунов Р. И., Клочков А. В., Шретер Ю. Г. // ФТП. 2006. Т. 40. Вып. 1. С. 122.
- Ковалев А. Н., Маняхин Ф. И., Кудряшов В. Е., Туркин А. Н., Юнович А. Э. // ФТП. 1999. Т. 33. Вып. 2. С. 224.
- Huang L., Yu T., Chen Z., Qin Z., Yang Z., Zhang G. // Journal of Luminescence. 2009. Vol. 129. P. 1981.
- Шуберт Ф. Светодиоды: пер. с англ. под ред. А. Э. Юновича. Изд. 2-е. – М.: Физматлит, 2008.
- Кудряшов В. Е., Золин К. Г., Туркин А. Н., Юнович А. Э., Ковалев А. Н., Маняхин Ф. И. // ФТП. 1997. Т. 31. Вып. 11. С. 1304.
- Кудряшов В. Е., Юнович А. Э. // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2003. Т. 124. № 5. С. 1133.
- Авакянц Л. П., Асланян А. Э., Боков П. Ю., Волков В. В., Матешев И. С., Туркин А. Н., Червяков А. В., Юнович А. Э. // Ученые записки физического факультета МГУ. 2016. № 3. С. 163401-1.
- Ekhanin S., Tomashevich A., Ermolaev A., Loschilov A. / International Siberian Conference on Control and Communications, SIBCON 2016 – Proceedings 2016. P. 7491776. DOI: 10.1109/SIBCON.2016.7491776
- Tomashevich A., Ekhanin S., Yunusov I. / AIP Conference Proceedings of the XIV International Conference of Students and Young Scientists. 2017. P. 060005. DOI: 10.1063/1.5009876
- Бочкарева Н. И., Вороненков В. В., Горбунов Р. И., Латышев Ф. Е., Леликов Ю. С., Ребане Ю. Т., Цюк А. И., Шретер Ю. Г. // Физика и техника полупроводников. 2013. Т. 47. № 1. С. 129.
- Бочкарева Н. И., Ребане Ю. Т., Шретер Ю. Г. // ФТП. 2014. Т. 48. № 8. С. 1107.
- Кудряшов В. Е., Туркин А. Н., Юнович А. Э., Ковалев А. Н., Маняхин Ф. И. // Физика и техника полупроводников. 1999. Т. 33. Вып. 4. С. 445.
- Супрядкина И. А., Абгарян К. К., Бажанов Д. И., Мутигуллин И. В. // ФТП. 2013. Т. 47. № 12. С. 1647.
- Закгейм А. Л., Левинштейн М. Е., Петров В. П., Черняков А. Е., Шабунина Е. И., Шмидт Н. М. // ФТП. 2012. Т. 46. № 2. С. 219.
- Jianzheng Hu, Lianqiao Yang, Moo Whan Shin. // Journal of Physics D: Applied Physics. 2008. Vol. 41. № 3. P. 035107.
- Бочкарева Н. И., Иванов А. М., Клочков А. В. и др. // Физика и техника полупроводников. 2015. Т. 49. Вып. 6. С. 847.
- Бочкарева Н. И., Zhirnov E. A., Ефремов А. А., Ребане Ю. Т., Горбунов Р. И., Шретер Ю. Г. // Физика и техника полупроводников. 2005. Т. 39. Вып. 5. С. 627.
- Bornemann S., Yulianto N., Spende H., Herbani Y., Prades J. D., Wasisto H. S., Waag A. // Adv. Eng. Mater. 2020. Vol. 22. P. 1901192. https://doi.org/10.1002/adem.201901192
- Еханин С. Г., Романовский М. Н., Томашевич А. А. // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. 2012. № 2-1 (26). С. 57.
- Васильева Е. Д., Закгейм А. Л., Снегов Ф. М., Черняков А. Е., Шмидт Н. М., Якимов Е. Б. // Светотехника. 2007. № 5. C. 30.
- Полищук А. Г., Туркин А. Н. // Компоненты и технологии. 2008. № 2. С. 25.
- N. I. Bochkareva, A. A. Efremov, Y. T. Rebane, et al., Semiconductors 40, 118 (2006).
https://doi.org/10.1134/S1063782606010210 - A. N. Kovalev, F. I. Manyakhin, V. E. Kudryashov, et al., Semiconductors 33, 192 (1999).
https://doi.org/10.1134/1.1187669 - L. Huang, T. Yu, Z. Chen, Z. Qin, Z. Yang, and G. Zhang, Journal Of Luminescence 129, 1981 (2009).
- F. Schubert, LEDs (2nd edition): Translated from English / Ed. by A. E. Yunovich. (Fizmatlit, Moscow, 2008).
- V. E. Kudryashov, K. G. Zolin, A. N. Turkin, et al., Semiconductors 31 (11), 1304 (1997).
- V. E. Kudryashov and A. E. Yunovich, Journal of Experimental and Theoretical Physics 97 (5), 1015 (2003).
- L. P. Avakyants, A. E. Aslanyan, P. Yu. Bokov, et al., Scientifical letters of physical faculty, No. 3, 163401-1 (2016).
- S. Ekhanin, A. Tomashevich, A. Ermolaev, and A. Loschilov, in Proc. International Siberian Conference on Control and Communications, SIBCON 2016. P. 7491776. DOI: 10.1109/SIBCON.2016.7491776
- A. Tomashevich, S. Ekhanin, and I. Yunusov, AIP Conference Proceedings of the XIV International Conference of Students and Young Scientists. 2017. P. 060005. DOI: 10.1063/1.5009876
- N. I. Bochkareva, V. V. Voronenkov, R. I. Gorbunov, et al., Semiconductors 47, 127 (2013).
https://doi.org/10.1134/S1063782613010089 - N. I. Bochkareva, Y. T. Rebane, and Y. G. Shreter, Semiconductors 48, 1079 (2014).
https://doi.org/10.1134/S1063782614080065 - V. E. Kudryashov, A. N. Turkin, A. E. Yunovich, et al., Semiconductors 33 (4), 445 (1999).
- I. A. Supryadkina, K. K. Abgaryan, D. I. Bazhanov, et al., Semiconductors 47, 1621 (2013).
https://doi.org/10.1134/ S106378261312018X - A. L. Zakheim, M. E. Levinshtein, V. P. Petrov, et al., Semiconductors 46, 208 (2012).
https://doi.org/10.1134/S106378261202025X - Jianzheng Hu, Lianqiao Yang, and Moo Whan Shin., Journal of Physics D: Applied Physics 41 (3), 035107 (2008).
- N. I. Bochkareva, A. M. Ivanov, A. V. Klochkov, et al., Semiconductors 49, 827 (2015).
https://doi.org/10.1134/S1063782615060056 - N. I. Bochkareva, E. A. Zhirnov, A. A. Efremov, et al., Semiconductors 39, 594 (2005).
https://doi.org/10.1134/1.1923571 - S. Bornemann, N. Yulianto, H. Spende, Y. Herbani, J. D. Prades, H. S. Wasisto, and A. Waag A., Adv. Eng. Mater. 22, 1901192 (2020). https://doi.org/10.1002/adem.201901192
- S. G. Ekhanin, M. N. Romanovsky, and A. A. Tomashevich, Proceedings of TUSUR University, No. 2-1 (26), 57 (2012).
- E. D. Vasilyeva, A. L. Zakgeim, F. M. Chernyakov, et al., Svetotechnika, No. 5, 30 (2007).
- A. Polischuk and A. Turkin, Components and techniques, No. 2, 25 (2008).
Выпуск
С О Д Е Р Ж А Н И Е
ОБЩАЯ ФИЗИКА
Шульман И. Л., Садовникова Я. Э., Кобыш А. Н., Рогов А. Ю.
Расчет однослойных диэлектрических покрытий для просветления в заданном интервале углов падения 5
ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ
Куриленков Ю. К., Тараканов В. П., Огинов А. В., Гуськов С. Ю., Самойлов И. С.
О квазинейтральности плазмы при осцилляторном удержании на основе наносекундного вакуумного разряда 14
Киреев С. Г., Гавриш С. В., Кулебякина А. И., Шашковский С. Г.
Зависимость эффективности УФ-излучения импульсных ксеноновых ламп от объемной плотности мощности разряда 24
ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
Болтарь К. О., Яковлева Н. И., Лопухин А. А., Власов П. В.
Фотоприемные устройства на основе p–i–n и барьерных структур средневолнового
ИК диапазона спектра 30
Юнусов И. В., Кондратенко А. В., Арыков В. С., Степаненко М. В., Троян П. Е.
Фотоприемник с интегрированным малошумящим усилителем X-диапазона 41
ФИЗИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Зиенко С. И., Беляков М. В.
Особенности оптической среды поверхности семян растений 47
Гренадёров А. С., Соловьёв А. А., Оскомов К. В., Яковлев Е. В.
Влияние поверхностного сплава на основе титана на свойства стали марки AISI 316L
с покрытием a-C:H:SiOx 53
Рунц А. А., С. Е. Ручкин, Ю. С. Жидик, А. В. Юрьева, М. И. Полосухина
Исследование влияния режимов осаждения пленок алмазоподобного углерода на их физико-механические характеристики 58
Кравчук Д. А.
Использование оптоакустического эффекта для измерения концентрации глюкозы 63
ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ
Зотин В. Ф., Дракин А. Ю., Рыбалка С. Б., Демидов А. А., Кульченков Е. А.
Измерительный комплекс для определения характеристик высоковольтных карбидокремниевых диодов Шоттки в импульсных режимах 67
Еханин С. Г., Томашевич А. А.
Сверхслабое свечение и нестабильности микротоков в синих GaN-светодиодах при разных стадиях деградации 74
Кондратенко В. С., Кадомкин В. В., Третьякова О. Н.
Моделирование тепловых процессов в контактных зонах тепловыделяющих элементов 83
Арсеничев С. П., Григорьев Е. В., Мазинов А. С., Пармёнов О. И., Фитаев И. Ш.
Исследование динамики нагрева металлодиэлектрических структур с нанометровыми проводящими пленками при воздействии СВЧ-полей 93
C O N T E N T S
GENERAL PHYSICS
I. L. Shulman, Ya. E. Sadovnikova, A. N. Kobysh, and A. Yu. Rogov
Calculation of single-layer dielectric coatings for antireflection in a given range of angles of incidence 5
PLASMA PHYSICS AND PLASMA METHODS
Yu. K. Kurilenkov, V. P. Tarakanov, A. V. Oginov, S. Yu. Gus’kov, and I. S. Samoylov
On the plasma quasineutrality under oscillatory confinement based on a nanosecond vacuum discharge 14
S. G. Kireev, S. V. Gavrish, A. I. Kulebyakina, and S. G. Shashkovskiy
Dependence of the Xe flash lamps’ UV radiation efficiency on the volumetric power density of the discharge 24
PHOTOELECTRONICS
K. O. Boltar, N. I. Iakovleva, A. A. Lopukhin, and P. V. Vlasov
Photodetector devices based on PIN and barrier structures of the mid-wave IR range of the spectrum 30
I. V. Yunusov, A. V. Kondratenko, V. S. Arykov, M. V. Stepanenko, and P. E. Troyan
A photoreceiver with an integrated X-band low-noise amplifier 41
PHYSICAL SCIENCE OF MATERIALS
S. I. Zienko and M. V. Belyakov
Features of the optical medium of the surface of plant seeds 47
A. S. Grenadyorov, A. A. Solovyev, K. V. Oskomov, and E. V. Yakovlev
The properties of AISI 316L steel after surface treatment with Ti surface alloy and a-C:H:SiOx coating 53
A. A. Runts, S. E. Ruchin, Yu. S. Zhidik, A. V. Yurjeva, and M. I. Polosukhina
Study of the influence of diamond-like carbon film deposition technology on the change of its physical and mechanical characteristics 58
D. A. Kravchuk
Application of the optoacoustic effect to measure glucose concentration 63
PHYSICAL APPARATUS AND ITS ELEMENTS
V. F. Zotin, A. Yu. Drakin, S. B. Rybalka, A. A. Demidov, and E. A. Kulchenkov
Measuring complex for determining the characteristics of high-voltage silicon carbide Schottky diodes in impulse modes 67
S. G. Ekhanin and A. A. Tomashevich
Ultra-weak emission and microcurrents instabilities in blue GaN LEDs at different stages of degradation 74
V. S. Kondratenko, V. V. Kadomkin, and O. N. Tretiyakova
Modeling of thermal processes in the contact zones of fuel elements 83
S. P. Arsenichev, E. V. Grigoriev, A. S. Mazinov, O. I. Parmenov, and I. Sh. Fitaev
Investigation of the dynamics of heating metal-dielectric structures with nanometer conductive film under the influence of microwave fields 93
Другие статьи выпуска
Приведены результаты экспериментальных исследований и анализ динамики нагрева металлодиэлектрических структур (МДС) с алюминиевыми проводящими пленками на подложках из стекла или ситалла при воздействии мощных СВЧ-полей, а также при воздействии постоянного и переменного токов.
На двух конкретных примерах рассмотрен общий подход в математическом моделировании тепловых процессов в контактных зонах тепловыделяющих элементов при разработке и оптимизации различных технологических процессов, систем и устройств. В первом примере рассмотрена математическая модель теплообмена в контактной зоне (металлогибридном термоинтерфейсе) между тепловыделяющим элементом и теплорассеивающим радиатором. Во втором случае рассмотрен и про-анализирован тепловой процесс при обработке материалов связанным алмазным ин-струментом в контактной зоне «алмазное зерно – связующий материал – обрабаты-ваемый материал». Общий подход в моделировании тепловых процессов в контактных зонах различных тепловыделяющих элементов позволяет оптимизировать параметры технологических режимов обработки и правильные условия эксплуатации изделий и систем.
Разработан отечественный автоматизированный исследовательский измерительный комплекс, позволяющий определять значения токов, напряжений и мощности карбидо-кремниевых диодов Шоттки при подаче импульсов обратного напряжения с амплитудами от 400 до 1000 В. Исследовательский измерительный комплекс был протестирован на карбидокремниевых диодах Шоттки DDSH411A91 («ГРУППА КРЕМНЫЙ ЭЛ») и C3D1P7060Q (Cree/Wolfspeed) и позволил определить их максимальные значения скорости нарастания обратного напряжения dV/dt (877 В/нс и 683 В/нс). Также были определены максимальные значения скорости нарастания тока dI/dt для диодов DDSH411A91 (3,24 А/нс) и C3D1P7060Q (3,72 А/нс). Впервые установлено, что при подаче импульса обратного напряжения амплитудой 1000 В максимальные значения мгновенной полной мощности достигают 1419 ВА для диода DDSH411A91 и 1638 ВА для диода C3D1P7060Q.
Исследован оптоакустический метод, имеющий высокое пространственное разрешение, для измерения концентрации глюкозы в крови. Оптоакустический эффект заключается в возбуждении акустических колебаний в жидкой среде в результате поглощения оптического излучения и локального термического нагрева среды. Проведены экспериментальные измерения в свиной крови при различных концентрациях глюкозы с использованием насоса для моделирования кровотока.
В настоящее время доступны только два инвазивных метода для измерения глюкозы в крови: первый, самый обычный метод требует забора образца крови, который затем транспортируется и анализируется в клинической лаборатории, нанесение крови на тест полоски глюкометра. Забор крови, особенно у детей, бывает сложным, кроме того, клинические исследования требуют времени. Следовательно, неинвазивный,
непрерывный мониторинг глюкозы оптоакустическим методом является перспективным.
Представлены результаты отработки режимов осаждения пленок алмазоподобного углерода на поверхность подложек из нержавеющей стали при разных параметрах процесса, проведена количественная оценка содержания sp3-связей и физико-механических характеристик полученных покрытий, сформулирован вывод о влиянии технологических параметров процесса осаждения на данные характеристики.
В работе представлены результаты по исследованию коррозионных и механических свойств нержавеющей стали марки AISI 316L после комбинированной поверхностной обработки. Обработка заключалась в формировании поверхностного сплава на основе титана с помощью низкоэнергетического сильноточного электронного пучка, который служил в качестве подслоя, и последующего нанесения a-C:H:SiOx покрытия методом плазмохимического осаждения. Показано, что такая комбинированная обработка поверхности повышает коррозионную стойкость стали, т. е. снижает плотность тока коррозии с 110-7 до 910-10 А/см2 и скорость коррозии с 1,110-3 до 9,310-6 мм/год. При этом модифицированная поверхность обладает высокими механическими и трибологическими свойствами.
Обнаружено, что покровная ткань семян растений обладает свойством усиления света люминесценции. Это явление проявляется как во временной, так и в частотной области. Коэффициент усиления (по мощности) в зависимости от типа семени меняется от 1,7 (фасоль) до 2,6 (рожь). Для его определения оптическую среду поверхности семян растений представляли в виде динамического звена, имеющего вход и выход. Импульсную (временную) характеристику звена находили по кривой релаксации люминесценции. Зависимость коэффициента усиления от температуры выражается в том, что при уменьшении ее от 50 оC до -30 оC, коэффициент усиления увеличивается от 1,73 до 2,48. Данное явление можно объяснить тем, что на стадии релаксации люминесценции коэффициент поглощения оптической среды поверхности семени принимает отрицательное значение.
Приведены результаты разработки модуля фотоприемника с интегрированным малошумящим усилителем (МШУ) электрического сигнала. Использование фотодетектора на основе коммерческого фосфид-индиевого фотодиода и специально разработанной переходной платы обеспечило возможность использования оптической несущей с длиной волны 1,31 и 1,55 мкм и выполнения оптоэлектронного преобразования электрического сигнала в диапазоне частот от 0 до 50 ГГц. Разработанный и интегрированный в модуль бескорпусной малошумящий усилитель на основе арсенида галлия позволил компенсировать потери преобразования фотодиода в X-диапазоне частот с минимальным добавочным шумом. Модуль фотоприемника предназначен для использования в качестве приемной части радиофотонного тракта, который обеспечивает существенное расширение дальности передачи сверхвысокочастотного сигнала по сравнению с классическими типами линий передачи (к примеру, коаксиальной или волноводной).
- Исследованы многослойные структуры на основе полупроводниковых материалов группы антимонидов с поглощающими слоями InSb, и AlxIn1-xSb, в том числе структуры с барьерным слоем InAlSb (InSb/InAlSb/InSb), предназначенные для изготовления перспективных фотоприемных устройств (ФПУ), детектирующих излучение в средневолновом инфракрасном (ИК) диапазоне спектра. На основе выращенных методом МЛЭ p–i–n и барьерных структур изготовлены фоточувствительные элементы (ФЧЭ) различной топологии с поглощающими слоями InSb, и AlxIn1-xSb. Показано, что широкозонные тройные растворы AlxIn1-xSb детектирующие излучение в средневолновой области спектра, являются альтернативой узкозонному бинарному соединению InSb, поскольку, вследствие широкозонности, фотодиоды на основе AlxIn1-xSb имеют меньшие темновые токи, а, следовательно, шумы. Для фотоприемных устройств на основе структур различной топологии измерены средние значения обнаружительной способности и эквивалентной шуму разности температур (ЭШРТ), так для р–i–n-структур среднее по ФЧЭ значение обнаружительной способности превысило D* 1011 см Вт-1 Гц1/2, а для структур с барьерным слоем – D* 1012 см Вт-1 Гц1/2.
Представлены результаты исследования влияния пиковой и средней электрической объемной плотности мощности на эффективность излучения и яркостную температуру в бактерицидном диапазоне спектра 200–300 нм. Получена линейная зависимость изменения КПД излучения в диапазоне от 5,1 до 8,4 % при росте средней объемной плотности мощности от 177 до 390 кВт/см3. Зависимость яркостной температуры в указанной области спектра от пиковой объемной плотности мощности представляет собой логарифмический характер с уменьшением скорости роста при приближении к 9 кК. Такой эффект может быть связан как с запиранием излучения парами испаренного кварца, так и с экранированием УФ-излучения внешними слоями плазмы.
Одной из основных проблем для устройств инерциального электростатического удержания с инжекцией электронов является нейтрализация пространственного
заряда. Данная работа посвящена анализу проблемы квазинейтральности плазмы
в схеме осцилляторного удержания ионов на основе наносекундного вакуумного разряда (НВР). Электродинамическое моделирование процессов анейтронного синтеза протон–бор показало, что плазма в НВР, и особенно на оси разряда, действительно соответствует квазинейтральному режиму, заметно отличающемуся от известной схемы периодически осциллирующих плазменных сфер (ПОПС). В этом случае малые осцилляции в НВР есть механизм резонансного нагрева ионов, в отличии от когерентных сжатий в оригинальной модели ПОПС. Скейлинг мощности синтеза оказывается близок к схеме синтеза с ПОПС, но существенно отличается величинами па-раметра квазинейтральности и степени сжатия.
Сформулирована задача просветления однослойной магнитодиэлектрической системы при прохождении через нее плоской электромагнитной волны в интервале углов падения и получены необходимые и достаточные условия существования решений этой задачи.
Издательство
- Издательство
- АО "НПО "ОРИОН"
- Регион
- Россия, Москва
- Почтовый адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- Юр. адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- ФИО
- Старцев Вадим Валерьевич (ГЕНЕРАЛЬНЫЙ ДИРЕКТОР)
- E-mail адрес
- orion@orion-ir.ru
- Контактный телефон
- +7 (499) 3749400