Работы автора

Фотосенсорика инфракрасного диапазона на основе гибридно-монолитных матриц на квантовых точках (2024)

Гибридно-монолитные матрицы ИК-диапазона на основе коллоидных квантовых то-чек (ККТ) активно развиваются в последние несколько лет. Динамика развития и достигнутые на сегодняшний день параметры по шагу, предельному формату и низкой стоимости позволяют говорить о том, что данное направление может обеспечить массовое распространение ИК-камер такого типа в различных сферах, где применение классических гибридных матричных фотоприемников ограничено или невозможно. Статья посвящена базовым вопросам построения таких матриц, анализу передовых достижений по данному направлению, в том числе в России, а также прогнозу возможных применений, которые открываются для ИК-фотосенсорики на основе ККТ.

Издание: Прикладная физика
Выпуск: №6 (2024)
Автор(ы): Попов Виктор, Пономаренко Владимир, Дирочка Александр Иванович, Попов Сергей Викторович
Сохранить в закладках
Чувствительность фоторезисторов на основе коллоидных квантовых точек HgTe в коротковолновом и средневолновом диапазонах инфракрасного спектра при комнатной температуре (2024)

Исследование способов создания фотосенсоров на средневолновый ИК-диапазона на основе коллоидных квантовых точек (ККТ) для создания недорогих фотоприемных матриц является одной из наиболее актуальных задач в современной фотосенсорике. Проведен синтез ККТ HgTe, изготовлены фоторезисторы и исследованы фотосенсорные характеристики. Экспериментально показано, что изготовленные на основе синтезированных ККТ HgTe фоторезисторы имеют чувствительность в коротковолновом и средневолновом ИК-диапазоне при комнатной температуре.

Издание: Прикладная физика
Выпуск: №6 (2024)
Автор(ы): Попов Виктор, Миленкович Теодора, Хакимов Карим Тимурович, Давлетшин Ренат Валиевич, Хамидуллин Камиль Алиевич, Шуклов Иван Алексеевич, Короннов Алексей Алексеевич, Пономаренко Владимир
Сохранить в закладках
Исследование возможности применения нейронных сетей при определении дефектов полупроводниковых материалов по изображениям растровой электронной микроскопии (2024)

Исследование посвящено разработке способа обнаружения дефектов в полупроводниковом производстве с помощью нейронных сетей по изображениям , полученным при помощи растрового электронного микроскопа. Проведено исследование метода, позволяющего сократить время обработки полученных изображений при поиске дефектов.

Издание: Прикладная физика
Выпуск: № 2 (2024)
Автор(ы): Малыгин Владислав Анатольевич, Попов Виктор, Баженов Константин Эдуардович, Засядко Татьяна Алексеевна
Сохранить в закладках