ISSN 1810-3189 · EISSN 2782-294X
Языки: ru · en

Статья: ОТРАЖЕНИЕ СВЕТА КРУГОВОЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОТ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО КРИСТАЛЛА CDS ВБЛИЗИ ЭКСИТОННОГО РЕЗОНАНСА С УЧЕТОМ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ДИСПЕРСИИ (2024)

Читать онлайн

Обоснование. Исследование материалов с помощью поляризованного излучения позволяет получать дополнительную информацию о свойствах материала благодаря векторному характеру электромагнитного поля. В этой связи наибольшее применение получил эллипсометрический метод анализа оптических свойств материалов. Использование света круговой поляризации несет дополнительную информацию из-за изменения эллипса поляризации при отражении.

Цель. В работе приводятся результаты расчетов частотных и угловых спектров эллипсометрических параметров отраженного света для полупроводникового кристалла CdS вблизи экситонного резонанса с учетом пространственной дисперсии.

Методы. Пространственная дисперсия приводит к возникновению дополнительных волн в среде, что требует использования дополнительных граничных условий для однозначного решения задачи об отражении света от такой среды. Из уравнений Максвелла выводится дисперсионное уравнение, которое в случае p-поляризованного излучения приводит к существованию трех волн, одна из которых - продольная. С учетом полной системы граничных условий проводится решение задачи об отражении и прохождении.

Результаты. Показано, что эллипсометрические параметры обладают высокой чувствительностью к характеристикам среды с пространственной дисперсией и могут служить для интерпретации экспериментальных данных. Найдено, что при отражении света круговой поляризации от среды с пространственной дисперсией характер эллипса поляризации может меняться от левой круговой до правой эллиптической поляризации, что может служить дополнительным источником информации о полупроводниковом кристалле вблизи экситонного резонанса.

Заключение. Использование эллипсометрического метода совместно с эллиптически поляризованным излучением дает возможность более детального изучения сред с пространственной дисперсией.

Background. The study of materials using polarized radiation allows one to obtain additional information about the properties of the material due to the vector nature of the electromagnetic field. In this regard, the most widely used method is the ellipsometric method for analyzing the optical properties of materials. The use of circularly polarized light carries additional information due to the change in the polarization ellipse upon reflection.

Aim. The paper presents the results of calculations of the frequency and angular spectra of the ellipsometric parameters of reflected light for a CdS semiconductor crystal near the exciton resonance, taking into account spatial dispersion.

Methods. Spatial dispersion leads to the appearance of additional waves in the medium, which requires the use of additional boundary conditions to uniquely solve the problem of light reflection from such a medium. From Maxwell’s equations a dispersion equation is derived, which in the case of p-polarized radiation leads to the existence of three waves, one of which is longitudinal. Taking into account the complete system of boundary conditions, the problem of reflection and transmission is solved.

Results. It is shown that ellipsometric parameters are highly sensitive to the characteristics of a medium with spatial dispersion and can serve to interpret experimental data. It was found that when circularly polarized light is reflected from a medium with spatial dispersion, the nature of the polarization ellipse can change from left-handed circular to right-handed elliptical polarization, which can serve as an additional source of information about the semiconductor crystal near the exciton resonance.

Conclusion. The use of the ellipsometric method in conjunction with elliptically polarized radiation makes it possible to study media with spatial dispersion in more detail.

Ключевые фразы: пространственная дисперсия, дополнительные граничные условия, экситонный резонанс, эллипсометрический метод, круговая и эллиптическая поляризация света
Автор (ы): Яцышен Валерий Васильевич
Соавтор (ы): Бородина Ирина Игоревна
Журнал: ФИЗИКА ВОЛНОВЫХ ПРОЦЕССОВ И РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ

Идентификаторы и классификаторы

УДК
535.33. Общие сведения о спектрах. Спектры испускания. Спектры излучения. Эмиссионные спектры
535.015. Оптические явления, зависящие от свойств элементов оптической системы (кроме воздуха и других окружающих сред)
Префикс DOI
10.18469/1810-3189.2024.27.4.40-49
eLIBRARY ID
75221732
Для цитирования:
ЯЦЫШЕН В. В., БОРОДИНА И. И. ОТРАЖЕНИЕ СВЕТА КРУГОВОЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОТ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО КРИСТАЛЛА CDS ВБЛИЗИ ЭКСИТОННОГО РЕЗОНАНСА С УЧЕТОМ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ДИСПЕРСИИ // ФИЗИКА ВОЛНОВЫХ ПРОЦЕССОВ И РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ. 2024. Т. 27 № 4
Текстовый фрагмент статьи