SCI Библиотека

SciNetwork библиотека — это централизованное хранилище научных материалов всего сообщества... ещё…

Книга: МОДЕЛЬ ТРАНСФОРМАЦИИ ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА В УЗКОЙ ТРУБЕ И ЕЕ ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ МОЩНЫХ КЛИСТРОНОВ

В монографии исследуется процесс продольной трансформации электронного пучка в узкой трубе и рассматривается построение дискретно-аналитической модели группирования электронного пучка в трубе дрейфа пролетного клистрона. Дискретно-аналитические модели, в отличие от конечно-разностных и других численных моделей, характеризуются сочетанием широкой области адекватности и высокой точности с высоким быстродействием. В работе исследованы различные типы продольных конвекционных волн, включая импульсные волны, и получена зависимость максимального КПД от коэффициента усиления в двухрезонаторных клистронах. Для научных работников, инженеров, преподавателей вузов, аспирантов, студентов, специализирующихся в области математического моделирования электронных пучков и вакуумных приборов и в области СВЧ-электроники больших мощностей.

Формат документа: pdf
Год публикации: 2013
Кол-во страниц: 101 страница
Владелец: Афонин Сергей
Доступ: Всем
Книга: МЕТОДЫ СВЕТОВОЙ И ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ В БИОЛОГИИ И ВЕТЕРИНАРИИ

В учебно-методическом пособии представлены теоретические сведения об устройстве и принципах работы различных типов микроскопов, особенностях методических приемов микроскопического исследования.

Учебно-методическое пособие предназначено для подготовки кадров высшей квалификации по программам подготовки научно-педагогических кадров в аспирантуре по направлению подготовки 06.00.01 «Биологические науки».

Формат документа: pdf
Год публикации: 2014
Кол-во страниц: 72 страницы
Доступ: Всем
Книга: ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ В НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОЙ РАБОТЕ

Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию про-граммного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для исследования соответствующих свойств и объектов.

Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.

Формат документа: pdf
Год публикации: 2023
Кол-во страниц: 96 страниц
Владелец: Афонин Сергей
Доступ: Всем