Предлагается структура модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и восстановления работоспособности при многократных отказах, что позволит выполнить замену разрядов данных основного массива запоминающих ячеек, в которых произошли отказы, на
данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Автоматическую реконфигурацию структуры модулей памяти при обнаружении отказов обеспечивают предложенные аппаратные и программные средства.
Приведены особенности алгоритмов тестов, предназначенных для выполнения диагностирования микросхем и модулей памяти. Приведены особенности синтаксиса машинно-ориентированного языка Prover, транслятора программ тестов в среду автоматизированного проектирования цифровых систем Active-HDL и средства визуализации результатов моделирования.
Монография предназначена для студентов и аспирантов университетов и специалистов по диагностированию модулей
памяти компьютеров.
Монография выполнена при финансовой поддержке гранта РФФИ (проект 16-08-00393).
